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钛的溅射沉积技术介绍


发布日期:2014-6-28 6:59:28

有关溅射的概念要追溯到1842年,当时,W.R.格罗维发现固体表面能被加速的正离子冲击流所刻蚀。早在1930年曾经报道过,溅射用于对塑料制的“录音盘”主盘沉积导电金属膜,以及生产光电记录器在1950年末于通汛领域中的通讯网络采用TaNj3-Ta基薄膜电阻和电容引起髙度的重视,并且首次按照总体要求对基体澉射了涂层,例如,研制出“在线”涂层系统减少了要求的"循环”次数。在1950年期间文纳尔发现t利用溅射某种电气绝缘层能使无线电频率(RF)进行辉光放电RF溅射沉积技术对很多电子器件、微电子电路及光学器件涂层产品的研制产生重大的影响。

离子轰击阴极靶而从其中溅射出材料的现象,迄今为止.有两种机理加以解释。

(1)18911926年间,提出溅射的发生是由于轰击离子产生局部的高温E,从而使阴极靶材料从这些区域蒸发。溅射速率是阴极靶材升华热与轰击离子能量的函数,而溅射出的金属原子呈正弦规律分布。

(2)1909年提出溅射机理是一种轰击离子把动能直接传递给阴极靶材原子的结果。

说明动能转移机理的主要实验论据可归纳如下:

①单晶体靶材逸出的原子,其分布并不符合正弦规律,而是趋向于晶体密度最高的方向。

②溅射系数不仅决定于轰击离子的能量,同时也决定于其质量

③存在着某一临界能置,低于这个能量不能产生溅射。

④离子能量很高,溅射系数减小,这可能是因为离子渗人到靶紂表面以下。

⑤溅射原子的能量比热蒸发原子的能量髙许多倍。

⑥没有发现电子轰击产生溅射。

第二种理论是在较高的真空中利用低等离子体或离子来轰击进行溅射的。

实验的结果不会因为存在着辉光放电而被混淆;而第一种理论,由于在辉光中放电,轰击阴极靶的离子有着很宽的能量范围和各种不同的传递方向,因此上述两种机理中的许多细微奥妙之处尚未定论。

随着磁控溅射研制的发展,早在1970年已经对跟射沉积技术进行了重大的革新。这种技水利用磁场把等离子体约束在被溅射沉积表面附近的某一区内。按照这种方法,对溅射沉积有一系列的限制,低的沉积速率涂敷的溅射沉积层在工业上同蒸镀之类的其他薄膜沉积过程展开了竞争。此外,在薄膜增长过程中加热的基体基本上减低破控溅射的利用,允许在低S体温度条件下酋次沉积出高质量的涂层。因此磁控溅射就成为很多微电子应用的重要突出技术。对媪度敏感的半导体渗金厲工艺过程以及AlSiAlQiAlSiCu之类多组分金属半导体的需求而不断增加溅射沉积涂层的应用范围。

表面微电f技术对磁控溅射的首次重大应用促进了对具有镍基合金的塑料汽车件进行溅射渗金属涂层,以及对建筑玻璃溅射沉积反射涂层。辅助溅射沉积应用包栝显示屏的加工,磁记录/储存介质,光学储存介质以及先进的消耗装置的装饰和包装。耐磨涂层梁用溅射沉积要追溯到1970年初期。近来,在硬涂层方面获得了两个非常重耍的进展:良好装饰涂层的加工及“非平衡的磁控”阴极的研制。

 


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